HST301-EW Компьютеризированный вертикальный металлографический микроскоп

Компьютерный вертикальный металлографический микроскоп HST301-EW предоставляет клиентам экономичные решения для металлографического анализа и промышленного контроля с превосходной системой визуализаци

Стандарты:

Запросить цитату Файлы скачать

Обзор продукта:

Компьютерный вертикальный металлографический микроскоп HST301-EW предоставляет клиентам экономичные решения для металлографического анализа и промышленного контроля с превосходной системой визуализации и удобством эксплуатации. В конструкции использована смотровая трубка с наиболее удобным углом наклона кровати новорожденного, что может снять напряжение и усталость пользователей при длительном рабочем состоянии и обеспечить наилучшее состояние наблюдения. Шкала на смотровой трубе позволяет пользователям самостоятельно регулировать оптимальный диапазон расстояний между зрачками.

Компьютерный вертикальный металлографический микроскоп HST301-EW объединяет в себе стабильный хост микроскопа, камеру высокого разрешения и оригинальное программное обеспечение для анализа металлографических изображений, которое может предоставить пользователям полный спектр эффективных решений для обнаружения и анализа металлографической структуры.

Этот микроскоп широко используется при металлографическом анализе структуры металлических материалов (включая перлит, степень сфероидизации, размер зерна, морфологию графита и т. д.), металлографическом анализе в учебных и научных исследованиях, прецизионных инженерных измерениях и других областях. Это незаменимый и важный инструмент в материаловедении, металлургическом машиностроении, машиностроении и других отраслях.

Функция памяти яркости

Функция памяти яркости позволяет запоминать яркость освещения при использовании каждого объектива и автоматически регулировать интенсивность света при переключении разных объективов.

Все серии полуапохроматических светлопольных объективов

В объективах используются линзы с высоким коэффициентом пропускания и передовая технология покрытия, позволяющая по-настоящему восстановить естественный цвет образца. Полуапохроматическая конструкция обеспечивает превосходную коррекцию хроматических аберраций, что улучшает контрастность и четкость наблюдаемого изображения.

Камера Sony с чипом высокой четкости

Камера представляет собой CMOS-камеру с C-креплением и CMOS-сенсором Sony, идеальную камеру для металлографического микроскопа для высококачественной микроскопии в светлом, темном поле, поляризации, при слабом освещении и флуоресцентной микроскопии в светлом поле, подходящую для материаловедческих приложений.

Сшивка изображений

Программное обеспечение для измерения изображения можно реализовать путем перемещения столика. В процессе ручного сшивания изображений можно реализовать функцию сшивания изображений различного увеличения для получения четкого изображения с большим полем зрения.

Объединение глубины резкости в реальном времени

Функция синтеза глубины резкости в программном обеспечении для измерения изображений позволяет вращать микроскоп для точной настройки различных точек глубины резкости, в то время как камера немедленно увеличивает глубину резкости микроскопического изображения в реальном времени. Детали всего кадра видны с первого взгляда, и вы больше никогда не увидите размытых изображений!

Технические параметры

Имя

Спецификация

Оптическая система

Оптическая система с коррекцией бесконечной хроматической аберрации

Смотровая трубка

Наклон 30°, трехсторонняя наблюдательная трубка с бесконечным шарниром, регулировка расстояния между зрачками: 50–75 мм, односторонняя диоптрийная регулировка: -2/+8 диоптрий, двухскоростной коэффициент разделения R:T=100:0 или 50:50

окуляр

Плоскопольный окуляр с высокой точкой окуляра и широким полем зрения SWH10X/23 мм (регулировка диоптрий)

Цель

Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 5X/NA0.15 WD15

Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 10X/NA0.30 WD8.4

Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 20X/NA0.45 WD3.0

Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 50X/NA0.75 WD3.0

Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 100X/NA0.90 WD1.0(необязательно)

Конвертер объективов

Высокоточный преобразователь яркого поля с 5 отверстиями внутреннего позиционирования, функция памяти яркости.

Механизм фокусировки

Коаксиальный механизм грубой и точной фокусировки в нижнем положении, ход грубой регулировки 30 мм,точность точной регулировки 0,001 мм. С устройством регулировки натяжения для предотвращения скольжения и случайным устройством верхнего предела. С механизмом регулировки положения платформы вверх и вниз, максимальная высота образца 40 мм.

Этап

Двухслойная механическая подвижная платформа, коаксиальная регулировка нижнего положения по X и Y; площадь платформы 240х175мм, рабочая поверхность: 135х125мм, диапазон перемещения: 75х50мм, может быть оснащен металлической подставкой для отражения.

Система отраженного освещения

Адаптивное широкое напряжение 100–240 В переменного тока, 50/60 Гц, комната с отражающей лампой, одиночный светодиод высокой мощности 10W, теплый цвет, подсветка по Колеру, с полевой диафрагмой и апертурной диафрагмой, регулировка по центру,

Поляризационный компонент

Анализатор, поляризатор.

Другие аксессуары

Фотоаксессуары: 0,5X C-mount, регулируемый фокус;

12-мегапиксельная камера Sony с чипом FEG, компьютерная система обработки изображений FCL-RS

Программное обеспечение для анализа металлографических изображений FMIA2025, высокоточный микрометр (шаг сетки 0,01 мм)

Компьютер

Брендированный бизнес-компьютер(необязательно)

Связывать продукты

ОСТАВИТЬ СООБЩЕНИЕ

Вы также можете связаться со мной по электронной почте. Мой адрес электронной почты admin@hssdtest.com

Быстрые предложения:

+86-15910081986