Компьютерный вертикальный металлографический микроскоп HST301-EW предоставляет клиентам экономичные решения для металлографического анализа и промышленного контроля с превосходной системой визуализаци
Стандарты:
Запросить цитату Файлы скачатьОбзор продукта:
Компьютерный вертикальный металлографический микроскоп HST301-EW предоставляет клиентам экономичные решения для металлографического анализа и промышленного контроля с превосходной системой визуализации и удобством эксплуатации. В конструкции использована смотровая трубка с наиболее удобным углом наклона кровати новорожденного, что может снять напряжение и усталость пользователей при длительном рабочем состоянии и обеспечить наилучшее состояние наблюдения. Шкала на смотровой трубе позволяет пользователям самостоятельно регулировать оптимальный диапазон расстояний между зрачками.
Компьютерный вертикальный металлографический микроскоп HST301-EW объединяет в себе стабильный хост микроскопа, камеру высокого разрешения и оригинальное программное обеспечение для анализа металлографических изображений, которое может предоставить пользователям полный спектр эффективных решений для обнаружения и анализа металлографической структуры.
Этот микроскоп широко используется при металлографическом анализе структуры металлических материалов (включая перлит, степень сфероидизации, размер зерна, морфологию графита и т. д.), металлографическом анализе в учебных и научных исследованиях, прецизионных инженерных измерениях и других областях. Это незаменимый и важный инструмент в материаловедении, металлургическом машиностроении, машиностроении и других отраслях.
Функция памяти яркости
Функция памяти яркости позволяет запоминать яркость освещения при использовании каждого объектива и автоматически регулировать интенсивность света при переключении разных объективов.
Все серии полуапохроматических светлопольных объективов
В объективах используются линзы с высоким коэффициентом пропускания и передовая технология покрытия, позволяющая по-настоящему восстановить естественный цвет образца. Полуапохроматическая конструкция обеспечивает превосходную коррекцию хроматических аберраций, что улучшает контрастность и четкость наблюдаемого изображения.
Камера Sony с чипом высокой четкости
Камера представляет собой CMOS-камеру с C-креплением и CMOS-сенсором Sony, идеальную камеру для металлографического микроскопа для высококачественной микроскопии в светлом, темном поле, поляризации, при слабом освещении и флуоресцентной микроскопии в светлом поле, подходящую для материаловедческих приложений.
Сшивка изображений
Программное обеспечение для измерения изображения можно реализовать путем перемещения столика. В процессе ручного сшивания изображений можно реализовать функцию сшивания изображений различного увеличения для получения четкого изображения с большим полем зрения.
Объединение глубины резкости в реальном времени
Функция синтеза глубины резкости в программном обеспечении для измерения изображений позволяет вращать микроскоп для точной настройки различных точек глубины резкости, в то время как камера немедленно увеличивает глубину резкости микроскопического изображения в реальном времени. Детали всего кадра видны с первого взгляда, и вы больше никогда не увидите размытых изображений!
Технические параметры
Имя | Спецификация |
Оптическая система | Оптическая система с коррекцией бесконечной хроматической аберрации |
Смотровая трубка | Наклон 30°, трехсторонняя наблюдательная трубка с бесконечным шарниром, регулировка расстояния между зрачками: 50–75 мм, односторонняя диоптрийная регулировка: -2/+8 диоптрий, двухскоростной коэффициент разделения R:T=100:0 или 50:50 |
окуляр | Плоскопольный окуляр с высокой точкой окуляра и широким полем зрения SWH10X/23 мм (регулировка диоптрий) |
Цель | Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 5X/NA0.15 WD15 |
Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 10X/NA0.30 WD8.4 | |
Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 20X/NA0.45 WD3.0 | |
Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 50X/NA0.75 WD3.0 | |
Полусоставной металлографический светлопольный объектив с плоским полем зрения 100X/NA0.90 WD1.0(необязательно) | |
Конвертер объективов | Высокоточный преобразователь яркого поля с 5 отверстиями внутреннего позиционирования, функция памяти яркости. |
Механизм фокусировки | Коаксиальный механизм грубой и точной фокусировки в нижнем положении, ход грубой регулировки 30 мм,точность точной регулировки 0,001 мм. С устройством регулировки натяжения для предотвращения скольжения и случайным устройством верхнего предела. С механизмом регулировки положения платформы вверх и вниз, максимальная высота образца 40 мм. |
Этап | Двухслойная механическая подвижная платформа, коаксиальная регулировка нижнего положения по X и Y; площадь платформы 240х175мм, рабочая поверхность: 135х125мм, диапазон перемещения: 75х50мм, может быть оснащен металлической подставкой для отражения. |
Система отраженного освещения | Адаптивное широкое напряжение 100–240 В переменного тока, 50/60 Гц, комната с отражающей лампой, одиночный светодиод высокой мощности 10W, теплый цвет, подсветка по Колеру, с полевой диафрагмой и апертурной диафрагмой, регулировка по центру, |
Поляризационный компонент | Анализатор, поляризатор. |
Другие аксессуары | Фотоаксессуары: 0,5X C-mount, регулируемый фокус; |
12-мегапиксельная камера Sony с чипом FEG, компьютерная система обработки изображений FCL-RS | |
Программное обеспечение для анализа металлографических изображений FMIA2025, высокоточный микрометр (шаг сетки 0,01 мм) | |
Компьютер | Брендированный бизнес-компьютер(необязательно) |